鍍層膜厚儀 德國尼克斯QuaNix 1500M膜厚儀零位穩(wěn)定：所有涂層測(cè)厚儀測(cè)量前都要求校準(zhǔn)零位，可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。儀器零位的穩(wěn)定是保證測(cè)量準(zhǔn)確的前提。一臺(tái)好的測(cè)厚儀校零后，可以長時(shí)間保持零位不漂移，確保準(zhǔn)確測(cè)量。
德國尼克斯QuaNix 1500M膜厚儀無需校準(zhǔn)：多數(shù)測(cè)厚儀除了校零外，還需要用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行調(diào)校。測(cè)量某一范圍厚度，要用某一范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校。主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性精度。不僅操作煩瑣，而且也會(huì)因標(biāo)準(zhǔn)片表面粗糙失效，增大系統(tǒng)誤差。
德國尼克斯QuaNix 1500M膜厚儀溫度補(bǔ)償：涂覆層厚度的測(cè)量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測(cè)量會(huì)得出很大的誤差。所以好的測(cè)厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補(bǔ)償技術(shù)，以保證不同溫度下的測(cè)量精度。
德國尼克斯QuaNix 1500M膜厚儀紅寶石探頭：探頭接觸點(diǎn)的耐磨性直接影響測(cè)量的精度。普通金屬接觸探頭，其表面磨損后會(huì)帶來很大的誤差。
德國尼克斯QuaNix 1500M膜厚儀獨(dú)特的直流采樣技術(shù)：使得測(cè)量重復(fù)性較傳統(tǒng)交流技術(shù)有無可比擬的優(yōu)越和提高。
單探頭量程大：0－5mm
雙功能用途：
1.測(cè)量鋼、鐵等鐵磁性（Fe）金屬基體上的非磁性涂鍍層的厚度，如油漆層、各種防腐涂層、涂料、粉末噴涂、塑料、橡膠、合成材料、磷化層、鉻、鋅、鉛、鋁、錫、鎘等
2.測(cè)量銅、鋁、不銹鋼等非鐵磁性（NFe）基體上的所有非導(dǎo)電層的厚度，如油漆層、各種防腐涂層、涂料、粉末噴涂、塑料、橡膠、合成材料、氧化層等。德國尼克斯QuaNix 1500M膜厚儀: QuaNix 1500/1500M(記憶型):
1.無需校準(zhǔn)，單探頭測(cè)量可以達(dá)到5000μm
2.Fe/NFe兩用探頭
3.自動(dòng)調(diào)零
4.自動(dòng)開關(guān)機(jī)
5.無任何按鍵
6.無線傳輸迷你探頭
7.可存儲(chǔ)3900個(gè)測(cè)量值（1500M記憶型）
QuaNix技術(shù)參數(shù) |
型 號(hào) | 4200 | 4500 | 1200 | 1500 | 7500 | keyless |
基 體 | Fe | Fe/NFe | Fe | Fe/NFe | Fe、NFe、Fe/NFe | Fe/NFe |
探頭形式 | 一體 | 一體、分體 | 無線分體 |
顯 示 | LCD數(shù)字顯示 |
測(cè)量范圍 | 0－3000μm | Fe:0-3000μm NFe：0－2000μm | 0－2000μm | 0－5000μm | 0－2000μm 0－5000μm | 0－5000μm |
測(cè)量精度 | 0－50μm：≤±1μm，50－1000μm：≤±1.5%，1000－2000μm：≤±2%， 2000－5000μm≤±3% |
顯示精度 | 1μm | 0－999μm：0.1μm，1000μm以上，0.01mm |
工作溫度 | －10 － ＋60℃ |
溫度補(bǔ)償 | 0－50℃ |
存 儲(chǔ) | － | 1500M型 | 7500M型 | keylessM型 |
| 3900個(gè)測(cè)量值，999個(gè)數(shù)據(jù)組 |
數(shù)據(jù)傳輸 | － | RS232打印、電腦 |
統(tǒng)計(jì)功能 | － | 平均值、大值、小值、標(biāo)準(zhǔn)偏差 |
超限報(bào)警 | － | 上下限 |
小基體 | 10mm×10mm |
小曲率 | 凸、凹半徑：3mm/25mm | 凸半徑：5mm，凹半徑：25mm |
薄基體 | Fe：0.2mm，NFe：0.05mm |
電 源 | 5號(hào)電池2節(jié) | 9V堿性電池1節(jié) | 5號(hào)電池2節(jié) |
重 量 | 110g | 130g | 150g | 130g |
尺 寸 | 110×60×27mm | 166×64×34mm | 110×60×24mm | 110×62×22mm |
相關(guān)儀器：頻閃儀，超聲波測(cè)厚儀, 激光測(cè)距儀，色差儀，鐵素體檢測(cè)儀，超聲波探傷儀，推拉力計(jì)，附著力測(cè)試儀，測(cè)振儀,氣體分析儀
